ТОМСК, 23 июн – РИА Томск. Ученые Томского госуниверситета
(ТГУ) с зарубежными коллегами предлагают использовать нелинейную оптическую
микроскопию для наблюдения за тканями организма при сахарном диабете и
онкологии; статья об этом методе исследования стала центральной темой номера престижного журнала Американского института физики, сообщается в среду на сайте
вуза.
Уточняется, что научный журнал Journal of Applied Physics, издаваемый Американским
институтом физики с 1931 года, опубликовал статью, написанную международным коллективом,
куда входят биофизики ТГУ и их коллеги из индийских и тайванских университетов. Визуальные
материалы к исследованию попали на обложку журнала.
"В статье показаны возможности применения нелинейной
оптической микроскопии для получения новых данных об изменениях, происходящих в
тканях при тяжелых заболеваниях – сахарном диабете, онкопатологиях и других.
Эти данные помогут создавать эффективные методы лечения и выявлять, например,
причины плохого заживления ран", – говорится в сообщении.
© с сайта Томского госуниверситета
Уточняется, что в диагностике заболеваний, проводимой на
основе анализа биотканей, важна информация о структуре и молекулярном составе (количестве
белков и других веществ). Традиционная микроскопия в большинстве случаев дает представление
только о структуре тканей. Но появление мощных фемтосекундных лазеров привело к
появлению методов нелинейной микроскопии, позволяющих исследовать тонкие
эффекты в биологической материи.
"С помощью этих методов можно увидеть распределение
различных белков, оценить метаболизм внутри клетки и другие параметры. В статье
авторы описывают широкие диагностические возможности, которые открывает
использование отдельных методов нелинейной микроскопии и их комбинации", – добавляется в сообщении вуза.
Результаты исследований, изложенные в статье, помогут
другим ученым, занимающимся медицинской физикой, создавать новые технологии для
диагностики заболеваний. Данные, полученные с помощью методов биофотоники,
станут основой для новых лечебных подходов, отмечается на сайте.
© с сайта ТГУ
Обложка Journal of Applied Physics